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赛默飞携旗下新半导体解决方案亮相

发布时间:2019-03-25   点击次数:445次

 

Thermo Scientific™ Helios 5

赛默飞推出新一代Thermo Scientific™ Helios 5,这款先进的小型聚焦离子束扫描电子显微镜将用于纳米材料的表征和分析。Helios 5产品系列的发布解决了目前越来越多的半导体技术挑战,包括更小的几何形状,3D结构,新材料和大量的分析样品以提高产量和根本原因分析。随着半导体产业从7nm技术节点转向5nm技术节点,Helios 5 TEM和Atom Probe样品制备软件提高对先进的原子级的结构和成分信息的获得能力。它可以在纳米尺度上实现更高质量的表面和3D信息,并且可以更地定位感兴趣的区域。

 

 

Thermo Scientific™ ELITE™ 系统

近几年来,半导体工业已经普遍接受使用ELITE (Enhanced Lock In Thermal Emission) 实现电性失效分析定位的工作。ELITE具有的灵敏度,可以帮助传统EMMI / OBIRCH 检测的不足。ELITE 还可以作为非破坏性检测,对于封装后的元件,分析失效点深度的位置。除了先进制程和封装的需求,针对功率元件在车用电子的应用,ELITE还支持高电压的测试。

 

工程师现场讲解及演示Thermo Scientific™ ELITE™ 系统

Thermo Scientific™ Nicolet™ iG50 FT-IR 光谱仪

赛默飞Nicolet旗下 iS50/iG50 系列硅片分析系统为硅片的研究或者大规模制造的质量控制提供了灵活强大的解决方案。 Nicolet iS50/iG50 系列硅片分析系统主要可以应用于氧、碳含量分析以及外延层 (EPI) 厚度测量。除此之外,iS50/iG50还可以应用于钝化层分析,例如:PSG、BSG、PBSG 中 PB 含量、Si中H的含量测定以及FSG。

 

Thermo Scientific™ Nicolet™ iG50

Thermo Scientific™ Nicolet™ iN10 光谱仪

赛默飞Nicolet旗下 iN10是一种直观、创新、集成的一体化傅里叶变换显微红外光谱仪,具有安装简便、性能、光谱质量高的特点。Nicolet iN10 显微红外光谱仪在半导体微电子领域主要应用于:固化胶的固化率测定、电子材料的分析与表征、显示材料的剖析与表征以及异物分析。

 

Thermo Scientific™ Nicolet™ iN10

Thermo Scientific™ iCAP™ TQs ICP-MS

支持三重四极杆技术的 Thermo Scientific™ iCAP™ TQs ICP-MS 是一种高性能 ICP-MS,适用于在与半导体行业相关的多种挑战性基质中进行痕量元素超痕量定量检测。在不牺牲其作为灵敏、易用的工作台仪器所具备的检测能力的前提下,具有三重四极杆技术出色的干扰去除能力,可更好地对各种更具挑战性的基质中的元素杂质进行检测。由于 iCAP TQs ICP-MS 占地面积小,加上具有简化的工作流程并支持自动化方法开发而特别易于使用,使其成为用于确保关键生产工艺一致性和提高半导体硅片加工产量而进行在线质量控制的理想检查工具。

 

Thermo Scientific™ iCAP™ TQs ICP-MS

Thermo Scientific™ NESLAB ThermoFlex 系列

性能可靠的多用途制热/冷却恒温循环器,可为需要的小型实验室到大型工业过程,提供制热/冷却恒温循环的关键应用,高可达24000瓦的制热/冷却恒温循环能力。本产品提供创新平台,可配置的设计,易于操作,以及的性能。

 

Thermo Scientific™ NESLAB ThermoFlex

Thermo Scientific™ Phenom™ ProX

Thermo Fisher Scientific 飞纳台式扫描电镜是半导体行业中的检测分析仪器。主要用于工业质量控制、缺陷分析和产品研发。可以选配 飞纳自动倾斜旋转样品杯或 U 中心样品杯观察半导体样品。通过倾斜旋转样品,能够展现独特的3D图像,分析样品上的隐藏特征,帮助用户把控产品质量。

 

Thermo Scientific™ Phenom™ ProX

展会现场,赛默飞展示了ELITE的实体机器并进行了DEMO演示,吸引了大批专业及相关人士的驻足了解问询。数量众多的同行以及访客在展台现场聆听了现场工程师讲解赛默飞在半导体行业的综合解决方案,并共同分享探讨了半导体行业内的前沿技术与新市场动态。

 

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